114检测网（http://www.test114.com.cn）提供可靠性试验、电磁兼容测试、IP防护等级测试、高低温振动冲击试验、盐雾测试、低气压试验、雷击试验、防尘防水等服务,实验室已获国家级CNAS、CMA资质认可,出具产品检测报告
高低温试验测试是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性的方法。高低温试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。
高低温放置试验顾名思义即为高温贮存和低温贮存试验。全民检测高低温试验依据按照GB/T2423.1和GB/T2423.2标准进行试验。
高温贮存试验：电子设备搁置在温度试验箱中，设备处于断电状态，高温贮存结束后，进行通电测试；
低温贮存试验：电子设备搁置在温度试验箱中，设备处于断电状态，低温贮存结束后，进行通电测试。
高低温试验测试流程：
1、在样品断电的状态下，先将温度下降到-50°C，保持4个小时;
请勿在样品通电的状态下进行低温测试，非常重要，因为通电状态下，芯片本身就会产生+20°C以上温度，所以，在通电状态下，通常比较容易通过低温测试，必须先将其冻透，再次通电进行测试。
2、开机，对样品进行性能测试，对比性能与常温相比是否正常。
3、进行老化测试，观察是否有数据对比错误。
4、升温到+90°C，保持4个小时，与低温测试相反，升温过程不断电，保持芯片内部的温度一直处于高温状态，4个小时后，执行2、3、4测试步骤。
5、高温和低温测试分别重复10次。
如果测试过程出现任何一次不能正常工作的状态，则视为测试失败。
高低温试验参考标准：
GB/T2423.1-2008试验A：低温试验方法
GB/T2423.2-2008试验B：高温试验方法
GB/T2423.22-2002试验N：温度变化试验方法
